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第 1  页
文件名称：电子产品项目材料检验标准
适用范围：电子产品材料检验IQC工位
修  订  记  载
版次
更改说明和原因
拟制/日期
审核/日期
批准/日期
1.0
初版发布
苏志燮整容
     
分发:
质量部(IQC、体系)
8  附录·······································································10
2目的：
提供电子产品项目材料及其附备件的检验标准。
3范围
本管理办法适用于电子产品项目材料检验。
4职责
质量部负责人负责本程序的组织实施。
质量部终端检验工程师负责材料及附备件的检验及结果分析报告。
质量部材料检验员负责实施检验。演员金莉莉
5定义
4.1 缺陷定义
非常严重缺陷(Critical)：严重影响产品的使用性能，造成产品无法正常使用。
严重缺陷(Major)：影响或降低产品的使用性能,或对预期目的造成严重影响的缺点。
轻微缺陷(Minor)：不影响产品的使用性能或对预期目的不造成影响的缺点。
4.2抽样标准
抽样标准：每批抽样如未注明均按照标准GB/T 2828.1-2012，一般检验水平Ⅱ，正常检验一次抽样方案进行。抽样时要覆盖到零箱的物料。
4.3缺点度量代码
N
数目(个)
D
直径(mm)
L
长度(mm)
H
深度(mm)
W
宽度(mm)
J
间距(mm)
S
面积(mm2)
   
4.4检验条件
在自然光或光照强度在300~600LX的近似自然光下（如40W荧光灯、距离800mm处），相距为400mm，观测时间为5秒/面，且检查者位于被检查表面的上方、视线与被检查面呈45°±15°进行正常检验。要求检验者的校正力不低于1.0。
6工作程序
5.1元器件
6.1.1R/L/C最好玩网络游戏
a、核对每盘材料最小包装的料号、供应商名称、物料描述是否与BOM一致。
b、检查每盘包装是否合理，料带是否破损、变形，核对元件封装尺寸。
c、非满盘料到料，抽取1到3颗用HP4284／HP4285／HP4286检测R、C的R、C值，零故障接收。
6.1.2二、三极管
a、核对每盘材料最小包装的料号、供应商名称、物料描述是否与BOM一致。
b、检查每盘包装是否合理，料带是否破损／变形、材料上可追溯标识明确。
c、发光二极管，根据来料的盘数，按照标准GB/T 2828.1-2012吕绍聪，一般检验水平Ⅱ，正常检验一次抽样方案进行，AQL=1.0抽检，每盘料抽检1-2pcs，在放大镜下观察该二极管的晶圆，并与封样进行核对比较，两者必须一致。（零故障接收）
6.1.3芯片
a、核对每盘材料最小包装的料号、供应商名称、物料描述是否与BOM一致。
b、检查每盘包装是否合理，料带是否破损／变形、材料上可追溯标识明确。
c、芯片外观无破损、变形 ，无污渍，印刷字迹清晰。
6.1.4印制板
a、核对材料最小包装的P/N，供应商料号，供应商名称描述是否与BOM一致。
b、包装是否合格，真空、防潮，包装外观无损（指最小包装）。
c、外观检查：尺寸及电性能检查均从一个最小包装中抽样。
1) 材料上可追溯标识明确。
2) 无压坏现象，板子无破损、折断、裁切不良。
3) 板面平整，板子弯曲变形度小于0.75%。弯曲变形度的测量：放置于大理石平台上，测其最大变形处翘起高度，除以板子对角线尺寸，算出变形度。每批次抽样5pcs,零故障接收。
4) 印刷线路清晰，无残留助焊剂、胶质、污渍、油渍，文字、标识清晰可辨；厂商检验合格之加盖油墨章，不应有扩散污染。外露金属部分无锈蚀，不得有短路、断路；焊点不得有翘起。
d、尺寸测量(包括共面性)：用游标卡尺或投影仪检测其外观尺寸(共面性用塞规)。尺寸每批次抽取5pcs，0故障接收
6.2结构件
后进生转化总结1．外观面A、B、C等级面定义：
根据使用者在正常使用中对整机产品各表面外观要求的重要程度，将产品的外观面分为 A、B、C 三种
等级面（部分机型示意图见附图）：
A级面：在正常使用过程中使用者经常注意到的区域，这些表面具有较严格的外观要求。一般指组装于 整机产品正面或顶面的零部件外表面
B级面：在正常使用过程中使用者偶尔注意到的区域，这些表面要求次于A级面，一般指组装于整机产 品左右侧面的零部件外表面；
C级面：在正常使用过程中不受使用者关注的区域，此表面的外观要求又次于B级面，一般指组装于整 机产品背面或底面的零部件外表面
特别说明，对组装于整机产品内部的零部件，不作严格的外观要求
2．抽样计划：按照国标GB/T2828 (或等同标准)，正常抽检水平，一次抽样，II类；
接受标准：AQL（Cri：不接受 Maj：中国好声音 歌曲0.65）