梁政珏专利名称：微观薄膜材料力学双轴测试试验台专利类型：发明专利发明人：段政，王天罡，牛莉莎，施惠基申请号：CN200910076650.3申请日：20090112公开号：CN101504342A公开日：20090812专利内容由知识产权出版社提供摘要：本发明属于材料力学测试设备领域，特别涉及一种微观薄膜材料力学双轴测试试验台。试验台的结构为：矩形箱体的侧壁设置两根异面垂直的丝杠，每根丝杠的两侧各...