发明人：段政，王天罡，牛莉莎，施惠基
申请号：CN200910076650.3
申请日：20090112
公开号：CN101504342A
公开日：
20090812
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明属于材料力学测试设备领域，特别涉及一种微观薄膜材料力学双轴测试试验台。试验台的结构为：矩形箱体的侧壁设置两根异面垂直的丝杠，每根丝杠的两侧各安置一根与之平行的导轨；丝杠的两端均穿过箱体的侧壁，一端用双螺母固定，另一端安装手轮；在每根丝杠上分别安装两个滑块；每个滑块均通过力传感器各连接一个夹具。使用本发明能够对薄膜材料施加不同的双轴应力，并可以置于温度箱中对薄膜材料在不同温度下的力学行为进行研究，结构简单，使用方便。
申请人：清华大学
地址：100084 北京市100084-82信箱
国籍：CN
代理机构：北京众合诚成知识产权代理有限公司
代理人：张文宝
更多信息请下载全文后查看
发布评论